免费下载 IEC 60068-2-66:1994 《环境试验—第2部分:试验方法—试验Cx:湿热,稳态(非饱和加压蒸汽)》(适用于广东韦斯高低温湿热试验箱)
发布时间:2026-01-04 浏览:5

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IEC 60068-2-66:1994  Environmental testing - Part 2:Test methods - Test Cx:Damp heat, steady state (unsaturated pressurized vapo.pdf

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标准概述
IEC 60068-2-66:1994是国际电工委员会(IEC)发布的一项环境试验标准,全称为“环境试验—第2部分:试验方法—试验Cx:湿热,稳态(非饱和加压蒸汽)”。该标准旨在提供一个加速试验方法,用于评估小型电气电子产品(尤其是非密封封装元件)在高温高湿环境下的耐受能力。它通过模拟极端湿热条件,在较短时间内检验产品是否会发生因湿气渗透引起的性能退化。

适用范围
该标准主要适用于小型非密封封装的电气电子元件,如塑料封装的半导体器件、集成电路等。试验重点评估湿气渗透导致的内部劣化(如金属腐蚀、绝缘下降),不适用于评估外部效应如外观腐蚀、结构变形等。

试验条件与所需仪器
试验在以下三种温度下进行,相对湿度均为85%:

  • 110°C(持续时间:96h、192h、408h)

  • 120°C(48h、96h、192h)

  • 130°C(24h、48h、96h)

所需仪器为湿热试验箱,需满足:

  • 能控制温度(±2°C)和湿度(±5%RH)

  • 能维持一定压力(约0.12 MPa至0.23 MPa)

  • 具备蒸汽发生装置和工作空间监控传感器

  • 使用蒸馏水或去离子水(电阻率≥0.5 MΩ·cm,pH 6.0–7.2)

恢复条件
试验结束后,样品需在标准大气条件(通常为23°C、50%RH)下恢复2至24小时,以稳定其状态,之后再进行最终测量。

试验过程与要求

  1. 初始测量:检查样品外观、尺寸和功能。

  2. 安装样品:避免热辐射,使用低导热性支架,确保蒸汽流通。

  3. 施加偏压:若规定,在温湿度稳定后施加电压以增强湿气效应。

  4. 试验循环

    • 升温阶段(≤1.5 h),排除腔内空气;

    • 保持规定温湿度;

    • 降温降压(1–4 h),避免快速减压。

  5. 中间测量(可选):可在试验中检测,但不改变试验条件。

  6. 恢复与最终测量:恢复后再次进行外观、尺寸和功能检查。

设备要求:高低温湿热试验箱

  • 试验箱应使用不锈钢、玻璃或陶瓷等耐腐蚀材料。

  • 腔内不得有冷凝水滴落于样品。

  • 温度波动应控制在其差异不超过1.5°C,以保持湿度稳定。

  • 蒸汽流速宜低于0.5 m/s,接近自然对流。

其他注意事项

  • 不推荐重复试验,若需更长时间可重新开始(间隔不超过96h)。

  • 样品温度不得超过其额定最高温度或封装材料的临界温度(如塑料的玻璃化转变温度)。

  • 偏压施加应避免引起样品过热(温升<2°C),必要时可采用间歇通电(如3h关/1h开)。

  • 试验箱清洁至关重要:每次试验前应使用稀释清洁剂和纯水清洗,防止污染影响结果。

  • 湿度测量在高压高温环境下需通过间接方法(如温度法、湿球法或露点法)并结合蒸汽表计算。

总结
IEC 60068-2-66为电子产品提供了一套加速湿热老化的标准化检验方法,通过模拟高温高压高湿环境,快速暴露产品在湿气渗透下的潜在缺陷。该标准不仅对试验设备、条件、流程作出细致规定,也强调了样品安装、偏压控制、设备清洁等细节,确保试验结果的一致性与可靠性,为电子产品的耐湿热设计提供了重要的验证手段。


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